产品单价 |
500.00元/台 |
起订量 |
1台 |
供货总量 |
1000 台 |
发货期限 |
自买家付款之日起3天内发货 |
品牌 |
无 |
镀层测厚仪的校准步骤如下:
选择标准样品:使用已知准确厚度的标准样品,这些样品应具有与被测镀层相似的材质和基底。常见的标准膜片厚度可能包括127μm、52μm和420μm等。
清洁仪器:在校准前,确保测厚仪的探头、传感器顶部和校准模板等部件干净无污,以免影响校准结果。
开机与零点校准:启动测厚仪后,将探头按在铁底座(或其他适当的基底)上,轻按零点校准键进行零点校准。
测量标准样品:零点校准后,抬起探头,将标准样品放置在铁底座上,然后将探头压在其上进行测量。如果测量结果不是大约127μm,按加号或减号键进行调整,直到测量值接近或等于标准值。
重复测量不同厚度的标准样品:调整完标准样品后,继续测量其他厚度的标准样品,并调整测量值以确保它们在允许的误差范围内。
检查校准结果:如果发现所有标准样品的测量值均基本正确,则校准成功。
镀层测厚仪校准的注意事项:
在校准时,探头一定要悬空,避免影响校准结果。
校准过程中需要重新校零,确保测量结果的准确性。
如果在校准时发现数据偏大或无法测量等问题,可以进入校准模式,调整校准参数,如线性度、斜率等,确保调整后的参数能够准确反映仪器的性能。
通过以上步骤和注意事项,可以有效地对镀层测厚仪进行校准,确保其测量的准确性和可靠性。
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